当社主催イベント

ディスプレイウェビナー（第8回）

これまで様々なテーマでお送りしてきましたディスプレイ関連ウェビナーも、おかげ様で第８回を迎える事が出来ました。
今回は、電荷輸送特性の向上や劣化機構の理解に不可欠な情報である積層膜中のバンドダイアグラムを、東レリサーチセンターが開発した低損傷REELS測定技術と、X線光電子分光法(XPS)を用いて分析した事例についてご紹介します。
また、耐久性や寿命、発光効率に関わるパネル中の共蒸着膜の比率やドーパント比を精度良く測定する手法や、プラズマFIB(PFIB)-SEMをはじめとした新規導入装置を利用した分析事例もご紹介いたしますので、是非、ご視聴ください。

※弊社と同業の分析会社の方の参加はお断りさせていただいております。

【推奨ブラウザ】
・Firefox(Mozilla) 最新版
・Chrome(Google) 最新版
・Edge(Microsoft) 最新版

※推奨ブラウザ以外をご利用いただいた場合、動画がご覧いただけない可能性がございます。
開催期間 2023年11月9日~11月24日
開催形式 オンライン形式（無料）
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1.有機半導体薄膜の電子状態分析技術

積層膜中のバンドダイアグラムを分析する方法について紹介します。 積層膜中の電荷の通りやすさ、いわゆる電荷移動特性は、構成する各層のバンドダイアグラムと呼ばれる電子状態に大きく依存するため、 積層膜を構成するバンドダイアグラムの分析は、電荷輸送特性の向上や劣化機構の理解に不可欠な情報となります。 とりわけ、ホール輸送ではHOMO準位が電子輸送においてはLUMO準位の位置が非常に重要なキーパラメーターになります。 弊社で開発した電子線ダメージを極力抑えた低損傷REELS測定技術とX線光電子分光法(XPS)を用いることで完全なバンドダイアグラムを解析する事が可能です。

技術資料
  • 有機半導体薄膜の電子状態解析
  • GCIBを用いた有機半導体薄膜の深さ方向電子状態解析
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2.有機ELデバイス中ドーパント比の算出

市販パネル中の共蒸着膜の比率やドーパント比を精度よく算出する定量分析について紹介します。 近年、市販されているOLEDパネルは、電子輸送層に2種類以上の化合物が用いられていたり、発光層にドーパントがドープされていたりと、一つの層の中に複数の成分が使用されることが一般的になってきました。 これらの比率はパネルの耐久性や寿命、発光効率に大きく影響を及ぼすと言われており高性能パネルを作製するヒントとなります。 また、実際に複数成分を1つの膜に成膜する際には、必ずしも仕込み通りの比率で成膜されるとは限らず、成膜した後の組成比を確認することは必要不可欠です。 その場合、定量分析が有効であり、弊社ではこれらパネル中の比率を精度よく算出することが可能です。

技術資料
  • 有機ELデバイス中のドーパント比の算出
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3.新規導入装置紹介、ディスプレイ関連分析例

新規導入装置を用いたディスプレイ関連の分析例について紹介します。
  • プラズマFIB(PFIB)-SEM
  • 最新導入TOF-SIMSのOLED分析への適用
  • High-contrast STEMによるOLED積層構造観察
  • GCIB-TOF-SIMS, MS/MSによるOLED層低分子成分の化学構造解析
  • TDSによるSi系薄膜の水分吸着・脱離挙動解析
  • QLEDデバイスの劣化解析
  • 質量分析と理論計算の組み合わせによるOLED劣化メカニズム解析

技術資料
  • 質量分析と理論解析を組み合わせたOLED劣化解析の新規技術
  • PFIB-SEMを用いた半導体チップの広範囲加工