NEW(2019.04)

LESA(局所表面溶媒抽出ロボットイオン源)を搭載したNano ESI-MS

LESA(Liquid Extract Surface Analysis)機能を搭載したNano ESI-MSシステムを導入しました。これまでに対応が困難だった以下の2点が可能になりました。

Nano-ESI-MS

01

 局所的な溶媒抽出 Nano ESI-MS測定

ロボットイオン源によるLESA機能を使用することで、試料表面の局所的な(空間分解能>400 μmφの)溶媒抽出液を調製して、表面付着成分の詳細な構造解析が可能です。(技術資料①参照)


02

 解離性化合物(錯体、有機金属塩)や特殊な溶液(高濃度溶液、高/低pH溶液)中成分の構造解析

Nanoフローにより、従来よりソフトなイオン化電圧条件で測定可能なことから、試料量が微量でも高感度で分子量関連イオンを安定的に検出可能です。またOrbitrapによる高質量分解能測定であることから、高精度な組成演算が可能です。(技術資料②参照)


代表的な表面分析手法の比較
代表的な表面分析手法の比較代表的な表面分析手法の比較
LESA NanoESI-MSとTOF-SIMSの比較
  LESA NanoESI-MS TOF-SIMS
質量範囲 m/z 50-6000 m/z 1-2000
質量分解能 140,000
m/z 200)
<10,000
m/z 200)
空間分解能 >400 μmΦ ~300 nmΦ
測定環境 大気圧下 真空下
検出イオン 分子量関連イオン
(低分子量成分や有機金属錯体の検出が可能)
二次イオン
(フラグメントイオンを含む)
凹凸表面測定可否 ×